Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography
Date issued
2021
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
MDPI
Abstract
Studie se zabývá kvantitativním stanovením hloubky defektů pomocí flahs pulzní termografie. Nová metoda vyhodnocení navržená v této práci zohledňuje 3D difuzi tepla, konečnou velikost defektů a koeficient tepelné reflexe mezi materiálem a defekty. Metoda je založena na kombinaci známých analytických modelů a procedury nelineárního fittingu (NLF). Algoritmus je ověřen numericky a experimentálně na vzorcích z PLA plastu vyrobených pomocí 3D tisku. Přesnost metody a její efektivcita byla hodnocena porovnáním s referenční metodou založenou rekonstrukci termografického signálu.
Description
Subject(s)
pulzní termografie, koeficient tepelné reflexe, poměr stran defektu, tepelné NDT, charakteristika defektu, nelineární fitting, rekonstrukce termografického signálu
Citation
MOSKOVCHENKO, A. ŠVANTNER, M. VAVILOV, VP. CHULKOV, AO. Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography. Materials, 2021, roč. 14, č. 8, s. nestránkováno. ISSN: 1996-1944