Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography

Date issued

2021

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

MDPI

Abstract

Studie se zabývá kvantitativním stanovením hloubky defektů pomocí flahs pulzní termografie. Nová metoda vyhodnocení navržená v této práci zohledňuje 3D difuzi tepla, konečnou velikost defektů a koeficient tepelné reflexe mezi materiálem a defekty. Metoda je založena na kombinaci známých analytických modelů a procedury nelineárního fittingu (NLF). Algoritmus je ověřen numericky a experimentálně na vzorcích z PLA plastu vyrobených pomocí 3D tisku. Přesnost metody a její efektivcita byla hodnocena porovnáním s referenční metodou založenou rekonstrukci termografického signálu.

Description

Subject(s)

pulzní termografie, koeficient tepelné reflexe, poměr stran defektu, tepelné NDT, charakteristika defektu, nelineární fitting, rekonstrukce termografického signálu

Citation

MOSKOVCHENKO, A. ŠVANTNER, M. VAVILOV, VP. CHULKOV, AO. Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography. Materials, 2021, roč. 14, č. 8, s. nestránkováno. ISSN: 1996-1944
OPEN License Selector