Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW
Date issued
2012
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Západočeská univerzita v Plzni
Abstract
Bakalářská práce se zabývá problematikou automatizovaného měření voltampérových charakteristik tranzistorů. V teoretické části jsou popsány parametry a vlastnostmi tranzistorů a popisuje vývojové prostředí LabVIEW. Pro účely měření byla použita multifunkční měřicí karta NI USB-6008/6009 od společnosti National Instruments. Softwarová část byla zpracována ve vývojovém prostředí LabVIEW. Výsledky práce již byly využity pro automatizaci laboratorní úlohy v předmětu Speciální součástky pro elektroniku.
Description
Subject(s)
tranzistory, statické charakteristiky, LabView, National instruments, DQA, automatizované měření