Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW

Date issued

2012

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Západočeská univerzita v Plzni

Abstract

Bakalářská práce se zabývá problematikou automatizovaného měření voltampérových charakteristik tranzistorů. V teoretické části jsou popsány parametry a vlastnostmi tranzistorů a popisuje vývojové prostředí LabVIEW. Pro účely měření byla použita multifunkční měřicí karta NI USB-6008/6009 od společnosti National Instruments. Softwarová část byla zpracována ve vývojovém prostředí LabVIEW. Výsledky práce již byly využity pro automatizaci laboratorní úlohy v předmětu Speciální součástky pro elektroniku.

Description

Subject(s)

tranzistory, statické charakteristiky, LabView, National instruments, DQA, automatizované měření

Citation

OPEN License Selector