Redundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího záření

Růžička, Ondřej

Redundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího záření

dc.contributor.advisor	Georgiev Vjačeslav, Doc. Dr. Ing.
dc.contributor.author	Růžička, Ondřej
dc.contributor.referee	Zich Jan, Ing. Ph.D., MBA
dc.date.accepted	2023-6-14
dc.date.accessioned	2023-08-02T10:45:22Z
dc.date.available	2022-10-7
dc.date.available	2023-08-02T10:45:22Z
dc.date.issued	2023
dc.date.submitted	2023-5-26
dc.description.abstract	Spolehlivost obvodů FPGA v prostředí ionizujícího záření je důležitá především pro kritické aplikace a výzkum v prostředí se zvýšenou radiací. Jedním ze způsobů zvýšení spolehlivosti návrhů je použití redundantních struktur. Práce se zabývá vývojem měřící platformy pro radiační testování hradlových polí PolarFire MPF300T. Poté návrhem, realizací a měřením kombinační logiky s modulární redundancí. Jako užitečná logika je popsána plná sčítačka. Pro zvýšení spolehlivosti je použita lichá modulární redundance. V závěrečné sekci jsou nasbíraná data vyhodnocena a formulována možná vylepšení pro budoucí experimenty.	cs
dc.description.abstract-translated	The reliability of FPGAs in ionizing radiation environments is particularly important for critical applications and research in environments with high levels of radiation. One way to increase the reliability of designs is to use redundant structures. This thesis focuses on the development of the PolarFire MPF300T gate array radiation measurement platform. Then the design, implementation and measurement of combinational logic with modular redundancy. A full adder is described as useful logic. To increase reliability, odd modular redundancy is used. The collected data is evaluated in the final section and possible improvements for future experiments are formulated.	en
dc.description.result	Obhájeno
dc.format	65
dc.identifier	92879
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11025/53539
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Západočeská univerzita v Plzni
dc.rights	Plný text práce je přístupný bez omezení
dc.subject	fpga	cs
dc.subject	modulární redundance	cs
dc.subject	see	cs
dc.subject	spolehlivost	cs
dc.subject	radiační odolnost	cs
dc.subject	ionizující záření	cs
dc.subject.translated	fpga	en
dc.subject.translated	modular redundancy	en
dc.subject.translated	see	en
dc.subject.translated	reliability	en
dc.subject.translated	radiation endurance	en
dc.subject.translated	ionizing radiation	en
dc.thesis.degree-grantor	Západočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnická
dc.thesis.degree-level	Navazující
dc.thesis.degree-name	Ing.
dc.thesis.degree-program	Elektronika a informační technologie
dc.title	Redundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího záření	cs
dc.title.alternative	Redundant structures in FPGA integrated circuits for ionizing environment	en
dc.type	diplomová práce