Redundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího záření
Date issued
2023
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Západočeská univerzita v Plzni
Abstract
Spolehlivost obvodů FPGA v prostředí ionizujícího záření je důležitá především pro kritické aplikace a výzkum v prostředí se zvýšenou radiací. Jedním ze způsobů zvýšení spolehlivosti návrhů je použití redundantních struktur. Práce se zabývá vývojem měřící platformy pro radiační testování hradlových polí PolarFire MPF300T. Poté návrhem, realizací a měřením kombinační logiky s modulární redundancí. Jako užitečná logika je popsána plná sčítačka. Pro zvýšení spolehlivosti je použita lichá modulární redundance. V závěrečné sekci jsou nasbíraná data vyhodnocena a formulována možná vylepšení pro budoucí experimenty.
Description
Subject(s)
fpga, modulární redundance, see, spolehlivost, radiační odolnost, ionizující záření