Investigation and Implementation of Test Vectors for Efficient IC Analysis

Files

brutscheck.pdf (151.22 KB)

Date issued

2008

Authors

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická

Abstract

Description

Subject(s)

integrované obvody CMOS, analýza integrovaných obvodů, testovací vektory, neinvazivní klasifikační metody

Citation

Electroscope. 2008, Konference EDS 2008.
EDS '08 IMAPS CS International Conference Proceedings. Brno, VUT v Brně, 2008.

Item identifier

http://hdl.handle.net/11025/515
 http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2008/EDS_2008/brutscheck.pdf

Collections

Konference EDS 2008 (2008)
2008