Metoda měření emisivity propustných povlaků na pokojové teplotě

Abstract

Povlaky deponované na povrch materiálů mění efektivním způsobem jejich povrchové vlastnosti. Povlaky s vysokou nebo nízkou emisivitou jsou používány pro zvýšení nebo snížení přenosu tepla zářením. Měření spektrální emisivity je základním krokem k efektivnímu použití povlaků pro tuto aplikaci. Současné měřicí metody jsou zaměřeny převážně na objemové nepropustné materiály. My představujeme metodu, která umožňuje měření emisivity polopropustných povlaků i přesto, že tyto povlaky jsou deponované na substrát. Metoda je založena na měření propustnosti a odrazivosti použitím integrační sféry a spektrometru s Fourierovou transformací (FTIR). Analyzovány jsou vzorky se dvěma rozdílnými tloušťkami stejného povlaku, který je deponován na propustné substráty. Měřená propustnost povlaku značí spektrální oblasti potenciálních rozdílů emisivity při použití různých substrátů. Z měřených hodnot může být vypočtena spektrální emisivita pro rozdílné tloušťky povlaku. Spektrální rozsah metody je od 2 um do 20 um. Měření je provedeno za pokojové teploty, což umožňuje analyzovat vzorky citlivé na zvýšené teploty, jako jsou biomedicínské materiály a nanopovlaky. Metoda byla ověřena na známých objemových vzorcích. Jako příklad měření polopropustného povlaku je uveden vysokoteplotní vysoceemisivní povlak.