Using VHDL-AMS to simulate aging behavior of electronic components
Date issued
2016
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Západočeská univerzita v Plzni
Abstract
Description
Subject(s)
stárnutí, rezistor, modelování integrovaných obvodů, matematický model, výpočetní modelování, knihovny
Citation
2016 International Conference on Applied Electronics: Pilsen, 6th – 7th September 2016, Czech Republic, p.89-92.