Using VHDL-AMS to simulate aging behavior of electronic components

Date issued

2016

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Západočeská univerzita v Plzni

Abstract

Description

Subject(s)

stárnutí, rezistor, modelování integrovaných obvodů, matematický model, výpočetní modelování, knihovny

Citation

2016 International Conference on Applied Electronics: Pilsen, 6th – 7th September 2016, Czech Republic, p.89-92.
OPEN License Selector