SPEM-Based Process Anti-Pattern Models for Detection in Project Data

Abstract

Detekce potíží projektů a nedostatků v jejich řízení je častou potřebou v oblasti projektového řízení a zlepšování procesu. Ideálně je taková detekce prováděna na základě dat dostupných v nástrojích řízení projektů. Procesní anti-vzory popisují právě tyty potíže a nedostatky, jsou ale zachyceny typicky ve formě určené k použití lidmi v projektovém řízení což vede k nejednoznačné interpretaci. Formalizované modely by přitom napomohly datově orientované detekci anti-vzorů. V tomto příspěvku ukazujeme, jak je možné anti-vzory modelovat na základě Software & System Process Engineering Metamodel (SPEM) a následně, jak je možné takovéto modely transformovat do podoby dotazů nad projektovými daty. Tento přístup je implementován v podobě rozšiřujícího modulu nástroje Eclipse Process Framework Composer.