Redundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího záření

dc.contributor.authorRůžička, Ondřej
dc.date.accessioned2025-06-20T08:51:00Z
dc.date.available2025-06-20T08:51:00Z
dc.date.issued2023
dc.date.updated2025-06-20T08:51:00Z
dc.description.abstractSpolehlivost obvodů FPGA v prostředí ionizujícího záření je důležitá především pro kritické aplikace a výzkum v prostředí se zvýšenou radiací. Jedním ze způsobů zvýšení spolehlivosti návrhů je použití redundantních struktur. Práce se zabývá vývojem měřící platformy pro radiační testování hradlových polí PolarFire MPF300T. Poté návrhem, realizací a měřením kombinační logiky s modulární redundancí. Jako užitečná logika je popsána plná sčítačka. Pro zvýšení spolehlivosti je použita lichá modulární redundance. V závěrečné sekci jsou nasbíraná data vyhodnocena a formulována možná vylepšení pro budoucí experimenty.cz
dc.description.abstractThe reliability of FPGAs in ionizing radiation environments is particularly important for critical applications and research in environments with high levels of radiation. One way to increase the reliability of designs is to use redundant structures. This thesis focuses on the development of the PolarFire MPF300T gate array radiation measurement platform. Then the design, implementation, and measurement of combinational logic with modular redundancy. A full adder is described as a useful logic. To increase reliability, odd modular redundancy is used. The collected data is evaluated in the final section and possible improvements for future experiments are formulated.en
dc.format4
dc.identifier.isbn978-80-261-1153-5
dc.identifier.obd43941435
dc.identifier.orcidRůžička, Ondřej 0000-0001-6125-3392
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/61368
dc.language.isocz
dc.project.IDSVK1-2023-005
dc.project.IDSGS-2021-005
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni
dc.relation.ispartofseriesElektrotechnika a informatika 2023
dc.subjectFPGAen
dc.subjectionizing radiationen
dc.subjectmodular redundancyen
dc.subjectradiation enduranceen
dc.subjectreliabilityen
dc.subjectSEEen
dc.titleRedundantní struktury v integrovaných obvodech FPGA v prostředí ionizujícího zářenícz
dc.titleRedundant Structures in FPGA Integrated Circuits for Ionizing Environmenten
dc.typeStať ve sborníku (O)
dc.typeSTAŤ VE SBORNÍKU
dc.type.statusPost-print
local.files.count1*
local.files.size346607*
local.has.filesyes*

Files

Original bundle
Showing 1 - 1 out of 1 results
No Thumbnail Available
Name:
Růzicka.pdf
Size:
338.48 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
License bundle
Showing 1 - 1 out of 1 results
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: