Degradation of Al-1%Si wires bonded onto copper pads
Date issued
2017
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Abstract
Description
Subject(s)
zatížení, Al-1%Si dráty, elektromigrační fenomén
Citation
Electroscope. 2017, č. 2.