Degradation of Al-1%Si wires bonded onto copper pads

Date issued

2017

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická

Abstract

Description

Subject(s)

zatížení, Al-1%Si dráty, elektromigrační fenomén

Citation

Electroscope. 2017, č. 2.