Měřicí systém pro ověření parametrů OCXO oscilátoru

Abstract

V současné komunikační a radarové technice ve vysokofrekvenčních pásmech je potřeba zajistit vysokou přesnost a spolehlivost elektronických zařízení. Pro zajištění těchto vysokých nároků je potřeba sestavit, otestovat a provést kontrolu jakosti výrobku. Cílem této práce je navrhnout a realizovat měřicí systém pro ověření parametrů teplotně stabilizovaného krystalového oscilátoru (Oven Controlled Crystal Oscillator, OCXO), které jsou klíčovou součástí těchto vysokofrekvenčních systémů. Navržený systém umožní obsluze urychlit a zjednodušit měření testovaného přípravku. Zjištěné hodnoty se automaticky zapisují do protokolu, který stanovuje přesnost, spolehlivost a kvalitu výrobku. Pro návrh a realizaci této práce byly použity programy a přístroje společnosti Rohde&Schwarz. Výsledkem je funkční měřicí systém, který ověří správnost desky plošných spojů OCXO oscilátoru a vyhodnotí parametry, které musí deska splňovat podle měřicího předpisu zadaného společností Rohde&Schwarz.

Description

Subject(s)

oscilátory ocxo, teplotně stabilizované oscilátory, spi sběrnice, automatizace měření, měřící pracoviště

Citation

Collections